1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量● 基本精度±0.08%的高精度测量● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量● 可以用于无线充电评价系统TS2400
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
测量模式LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量测量参数Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q测量量程100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）基本精度Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°测量频率4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）测量信号电平V模式，CV模式（普通模式）50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）10mV~1Vrms，1mVrms步... [详细介绍]